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Diretor de Metrologia Científica, Industrial e Tecnologia, formado em Engenharia Eletrônica em 1984, M.Sc. em Ciência da Computação em 1988, pela Universidade Federal do Rio de Janeiro (UFRJ), e Ph.D. em Ciência da Computação em 1994, pelo Laboratório de Arquitetura e Análise de Sistemas da Organização Nacional Francesa de Pesquisa Científica (LAAS/CNRS) em Toulouse - França. De 2002 a 2003, período sabático no United Technologies Research Center em Connecticut, EUA. De 1986 a 2008, foi membro ativo da equipe de pesquisa do Núcleo de Computação Eletrônica da UFRJ. Desde 2008 é Especialista Sênior do Instituto Nacional de Metrologia, Qualidade e Tecnologia (INMETRO. Professor ativo nos programas de doutorado em Ciência da Computação na UFRJ (PPGI) e em Metrologia (PPGMT) no Inmetro. Também está à frente do Conselho Acadêmico do Inmetro. Interesses de pesquisa incluem segurança da informação, validação de software para sistemas embarcados e transformação digital em metrologia.
Email Institucional: LFRUST@INMETRO.GOV.BR